X熒光光譜儀 硅針半導體探測器 X光管探測器
型號： JC15-EDX6000
一、技術指標:
分 析 范 圍: 1PPM-99.99%
同 時 分 析: 幾十種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.005微米
測 量 對 象: 固體、粉未、液體
測 量 時 間: 60-300 秒
測 量 精 度 : 0.05%
分 析 元 素: Na-U
工 作 溫 度: 15-26℃
相 對 濕 度: ≤70%
重 量 : 100KG
功 耗: 200瓦
二、儀器配置：
多樣自動進樣系統
計算機、噴墨打印機
真空泵（可選）
壓片機（可選）
硅針半導體探測器
放大電路
高低壓電源
X光管
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